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當(dāng)前位置：首頁產(chǎn)品中心實(shí)驗(yàn)檢測(cè)儀器高倍金相顯微鏡PZ-WLI-150白光共聚焦顯微鏡

白光共聚焦顯微鏡

產(chǎn)品簡介

白光共聚焦顯微鏡納米深度3D形狀顯微檢測(cè)儀不需要復(fù)雜光路調(diào)整程序，即可在非接觸、無破壞、普通大氣環(huán)境下完成3D納米深度的表面檢測(cè)分析，提供3D表面形狀和表面紋理的分析，
更可提供鏡面表面的納米級(jí)粗糙度和臺(tái)階高度分析。
納米深度3D形狀顯微檢測(cè)儀具有測(cè)量能力，可在幾秒內(nèi)就完成整個(gè)視場(chǎng)的掃描，得到
測(cè)量樣品的3D圓形與高度數(shù)據(jù)，檢測(cè)速度與深度量測(cè)能力優(yōu)于逐點(diǎn)逐面掃描的共焦掃描顯微鏡

產(chǎn)品型號(hào)：PZ-WLI-150
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
訪問量：1725
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白光共聚焦顯微鏡納米深度3D形狀顯微檢測(cè)儀不需要復(fù)雜光路調(diào)整程序，即可在非接觸、無破壞、

普通大氣環(huán)境下完成3D納米深度的表面檢測(cè)分析，不僅提供3D表面形狀和表面紋理的分析，更可提供鏡面表面的納米級(jí)粗糙度和臺(tái)階高度分析。

納米深度3D形狀顯微檢測(cè)儀具有測(cè)量能力，可在幾秒內(nèi)就完成整個(gè)視場(chǎng)的掃描，得到測(cè)量樣品的3D圓形與高度數(shù)據(jù)，檢測(cè)速度與深度量測(cè)能力優(yōu)于逐點(diǎn)逐面掃描的共焦掃描顯微鏡，3D圓形量測(cè)能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測(cè)能力，且不需要使用電子束或鐳射，關(guān)機(jī)快又安全，維護(hù)成本更低。

無論是 拋光面，還是粗糙面，甚至是高透明材質(zhì)（例如石英），只要有超過1%以上的反射率

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白光共聚焦顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域

1、觸控面板(Touch Panel)

2、太陽能板(Solar Cell)

3、晶圓(Silicon Wafer or Sapphire Wafer)

4、光碟/硬碟(DVD Disk/Hard Disk)

5、微機(jī)電元件(MEMS Components)

6、平面液晶顯示器(LCD)

7、高密度線路印刷電路板(HDI PCB)

8、IC封裝(IC Package)

9、精密微機(jī)械元件或模具(Micro Mechanical Parts or Mode)

10、以及其它材料分析與元件微表面研究。


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