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IC芯片元器件的共面性測試儀

更新時(shí)間:2021-01-10點(diǎn)擊次數(shù):2959

IC芯片元器件的共面性測試儀問題

引腳的共面性指器件引腳底面不在同一平面的情況。一般用引腳底面離元件引線確定的平面的距離表示。引腳共面性的問題,主要涉及多引腳的器件,如QFP、BGA、連接器等。

一、儀器工作原理:

測量儀工作原理:被測工件(置于工作臺(tái)上)由LED表面光或輪廓光(在底座內(nèi))照明后,經(jīng)變焦距物鏡與彩色CCD攝影機(jī)罩殼內(nèi)攝取被測零件影像,再通過S端子傳送至計(jì)算機(jī)及顯示器上,軟件在顯示器上產(chǎn)生的視頻十字線為基準(zhǔn),對其進(jìn)行瞄準(zhǔn)測量,通過工作臺(tái)帶動(dòng)光學(xué)尺與在X、Y方向上移動(dòng),取空間各點(diǎn)坐標(biāo)值,由轉(zhuǎn)接卡至計(jì)算機(jī),對測量坐標(biāo)值進(jìn)行幾何運(yùn)算,完成各種數(shù)據(jù)量測工作。

 

 

 

二、應(yīng)用領(lǐng)域:

 本儀器采用測量軟件,能率的檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓和表面形狀,1、元器件共面性測試、引腳移位檢測、引腳高度錯(cuò)誤檢測、引腳面積測量、直徑、角度、不規(guī)則面積測量、手輪可調(diào)節(jié)光柵、非刺眼型光源、高精度XZ軸測距、SPC過程統(tǒng)計(jì)如樣板、沖壓件、凸輪,成形銑刀等各種工具,刀具和零件,以及端子、鐘表、金剛石等生產(chǎn)。

 

三、儀器功能:

    產(chǎn)品基本幾何元素測量、組合元素測量、幾何元素構(gòu)造、形位公差評定、逆向工程等,各種報(bào)表的輸出,各種產(chǎn)品的檢測。

四、儀器特點(diǎn):

    1、機(jī)臺(tái)核心零部件全部采用產(chǎn)品,整機(jī)經(jīng)過嚴(yán)格,規(guī)范的組裝和調(diào)試,整機(jī)在24小時(shí)恒溫間內(nèi)經(jīng)300小時(shí)不間斷運(yùn)行負(fù)載測試。

2、自準(zhǔn)直儀校準(zhǔn)機(jī)臺(tái)機(jī)身工作臺(tái)裝配工藝,保證機(jī)器空間測量高精度。

3、工作臺(tái),經(jīng)過嚴(yán)格熱處理時(shí)效,長期使用保證基準(zhǔn)面不變形,導(dǎo)軌運(yùn)行精度穩(wěn)定。

 

4、采用山東濟(jì)南青“00”級(jí)花崗石底座,保證機(jī)械系統(tǒng)*的穩(wěn)定性。

 

5、采用高精密V型交叉導(dǎo)軌,保證儀器*的機(jī)械精度。

五、測量軟件簡介:

 1、全中文界面(語音可選擇)、鼠標(biāo)直接點(diǎn)擊操作,智能型簡便易學(xué)易用。

2、對一般幾何測量圓、點(diǎn)、線、面、橢圓、圓弧、槽形、O形環(huán)、距離、角度、開云線、閉云線等,可以自動(dòng)抓取量測數(shù)據(jù),度穩(wěn)定。

3、測量方法多樣(自動(dòng)判別測量、采點(diǎn)測量、對比測量、公差對比測量、預(yù)置元素等),可以滿足用戶不同需求,大大提高使用的方便性和測量精度。

4、測量工件可任意擺放,軟件具有強(qiáng)大的坐標(biāo)平移、旋轉(zhuǎn)或重新設(shè)置功能。

5、可以在影像上對所測元素直接進(jìn)行尺寸標(biāo)定,給客戶以清晰、直觀的感覺。

6、無論規(guī)則與不規(guī)則形狀工件只需鼠標(biāo)框選,圖形自動(dòng)尋邊找點(diǎn),進(jìn)行二維圖形抄數(shù)。

7、實(shí)現(xiàn)DXF格式的輸入和輸出,還可保存BMP圖片以及用戶程序格式。

8、直觀、豐富的報(bào)表輸出,Word 、Excel、TXT格式及統(tǒng)計(jì)功能。

9、實(shí)用的SPC模塊。

 

  1. 十字線中心采點(diǎn)、鼠標(biāo)采點(diǎn)、自動(dòng)對焦采點(diǎn)、鼠標(biāo)自動(dòng)采點(diǎn)、直線采點(diǎn)、方形框采點(diǎn)、放大采點(diǎn)、采集點(diǎn)。
  2. 采點(diǎn)測量直線、框選測量直線、分段框選測量直線、采點(diǎn)測量圓、框選測量圓、分段框選測量圓、單擊圓內(nèi)部測量圓、框選測量多圓。
  3. 采點(diǎn)測量弧、框選測量弧、分段測量超過屏幕的弧、采點(diǎn)測量橢圓、框選測量橢圓、分段測量橢圓、采點(diǎn)測量矩形、框選測量矩形。
  4. 采點(diǎn)測量槽形、框選測量槽形、采點(diǎn)測量O環(huán)形、框選測量O環(huán)形、采點(diǎn)測量云線、采點(diǎn)測量閉合云線、影像測量高度、圓心框采點(diǎn)。
  5. 自動(dòng)捕捉測量、測量超過屏幕的線,弧,圓,橢圓、刪除后一次采集的點(diǎn)。

 

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